교육은 반도체 소재 및 소자 제작 실습, X-선 회절 분석기(XRD: X-ray Diffractometer) 및 이온빔 주사전자현미경(FIB-SEM: Focused Ion Beam-Scanning Electron Microscope)을 이용한 물성 분석 등 장비의 구동 원리부터 조작, 분석 결과 해석까지 체계적으로 진행됐다.
X-선 회절 분석기는 분말, 박막 시료 측정과 데이터베이스를 이용한 상분석 및 두께 분석을 하는 장비다. 이온빔...
2023-08-28 10:00